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半導體冷熱沖擊試驗箱

更新時間:2024-05-09

訪問量:931

廠商性質:生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址:

簡要描述:
半導體冷熱沖擊試驗箱,提供高溫和低溫的環(huán)境,從而測試樣品在短時間內經(jīng)歷溫度變化時的化學反應或物理傷害。
品牌豪恩產(chǎn)地國產(chǎn)

一、半導體冷熱沖擊試驗箱工作原理

1、低溫儲存室:箱內溫度狀態(tài)由風道中的加熱器、蒸發(fā)器以及風機的工作狀態(tài)決定。經(jīng)過膨脹閥節(jié)流流出的制冷劑進入工作室內蒸發(fā)器后,吸收工作室內熱量并氣化,使工作室溫度降低;氣化后的工質被壓縮機吸入并壓縮成高溫、高壓氣體進入冷凝器中被冷凝成液體,再經(jīng)篩檢程式,最后通過膨脹閥節(jié)流后,重新又進入工作室內蒸發(fā)器中吸熱并氣化然后再被壓縮機吸入壓縮。如此往復回圈工作,使工作室溫度降到設置的溫度要求

2、高溫儲存室:中央控制器從感溫元件檢測即時信號,與設定溫度信號進行比較,得到比較信號,由儀表PID邏輯電路輸出信號控制固態(tài)繼電器的導通或關斷的時間比例調節(jié)加熱器輸出功率大小,從而達到自動控溫的目的。

3、沖擊溫度測試室:由儀表自動控制高低溫氣閥,在低溫或高溫儲存室之間切換,分別與高溫箱或低溫箱形成閉路空氣循環(huán)系統(tǒng),迅速達到試驗的目標溫度。

二、半導體冷熱沖擊試驗箱技術參數(shù)

容量

內箱尺寸(cm)

外形尺寸(cm)

型號

溫度范圍℃

總功率

降溫時間

升溫時間


80升


50×40×40


170×180×144

HE-LR-80S

-40~+150

21KW

-55℃

70min


150℃


40min

HE-LR-80W

-55~+150

22KW

-65℃

80min

HE-LR-80L

-65~+150

23KW

-75℃

90min


100升


60×40×40


180×180×144

HE-LR-100S

-40~+150

22KW

-55℃

80min


150℃


40min

HE-LR-100W

-55~+150

23KW

-65℃

90min

HE-LR-100L

-65~+150

25KW

-75℃

100min

150升


60×50×50


180×190×154

HE-LR-150S

-40~+150

28KW

-55℃

80min


150℃


40min

HE-LR-150W

-55~+150

35KW

-65℃

100min

HE-LR-150L

-65~+150

45KW

-75℃

100min

250升


70×50×50


190×200×164

HE-LR-250S

-40~+150

30KW

-55℃

80min


150℃


40min

HE-LR-250W

-55~+150

40KW

-65℃

110min

HE-LR-250L

-65~+150

50KW

-75℃

120min

高溫槽溫度范圍

+60℃~+200℃

溫度波動度

±2.0℃

溫度轉換時間

10S

溫度穩(wěn)定時間

3~5min(常溫~低溫度,常溫~高溫度)

內箱材質

SUS304鏡面不銹鋼

外箱材質

SUS201紗面不銹鋼或電解鋼板噴塑處理

冷凍系統(tǒng)

冷凍機組為復疊式,壓縮機(進口法國泰康或進口德國比澤爾),R404A、R23環(huán)保冷媒

冷卻方式

水冷或風冷(可選擇)

控制器系統(tǒng)

可程控彩色觸摸式溫度控制器(TEIP880S或OYO8226)

標配

測試1個,樣品架2個

使用電源

AC 三相 五線 380V 50HZ

保護裝置

無熔絲開關,壓縮機過載保護,超溫保護,風機過載保護,保險絲

聯(lián)機軟件

R232、485或USB接口

半導體冷熱沖擊試驗箱


操作步驟:

1.準備工作:檢查試驗箱的電源和冷卻水供應是否正常,并確保試驗箱內部干凈。

2.設置溫度范圍:根據(jù)測試要求,設置冷凍室和熱室的溫度范圍,并將試樣放入試樣槽中。

3.設置測試參數(shù):通過試驗箱的控制面板或者計算機軟件,設置溫度變化速率、溫度循環(huán)次數(shù)等測試參數(shù)。

4.開始測試:啟動試驗箱,讓試樣槽交替置于冷凍室和熱室中,進行冷熱沖擊測試。

5.監(jiān)控和記錄數(shù)據(jù):定期監(jiān)測和記錄試樣槽的溫度變化,包括冷凍室、熱室和試樣的溫度。

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